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文献
J-GLOBAL ID:202102234490104391   整理番号:21A2057434

発光ダイオードチップスケールパッケージに用いられるチタン改質シリコーンの高温性能評価と寿命予測【JST・京大機械翻訳】

High Temperature Performance Evaluation and Life Prediction for Titanium Modified Silicone Used in Light-Emitting Diodes Chip Scale Packages
著者 (6件):
Yu Si
(College of Chemistry and Environmental Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518055, China)
Wang Zhen
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Hohai University, Changzhou 213022, China; Changzhou Institute of Technology Research for Solid State Lighting, Changzhou 213161, China)
Fan Jiajie
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Hohai University, Changzhou 213022, China; Changzhou Institute of Technology Research for Solid State Lighting, Changzhou 213161, China; Department of Microelectronics, Delft University of Technology, Delft 2628 CD, The Netherlands)
Qian Cheng
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China)
Deng Zhentao
(College of Chemistry and Environmental Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518055, China)
Gui Dayong
(College of Chemistry and Environmental Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518055, China)

資料名:
Journal of Electronic Packaging  (Journal of Electronic Packaging)

巻: 142  号:ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: T0929A  ISSN: 1043-7398  CODEN: JEPAE4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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