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文献
J-GLOBAL ID：202102236179930764
整理番号：21A0612924
ナノスケール電圧センシング応用のための単一Electronボックスアレイの無線周波数反射測定【JST・京大機械翻訳】
Radio Frequency Reflectometry of Single-Electron Box Arrays for Nanoscale Voltage Sensing Applications
Zirkle Thomas A.
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
,
Zirkle Thomas A.
(Northrop Grumman, Ogden, UT 84405, USA)
,
Filmer Matthew J.
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
,
Filmer Matthew J.
(L3Harris, Fort Wayne, IN 46818, USA)
,
Chisum Jonathan
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
,
Orlov Alexei O.
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
,
Dupont-Ferrier Eva
(Institut Quantique, Universite de Sherbrooke, Sherbrooke, QC J1K 2R1, Canada)
,
Rivard Joffrey
(Institut Quantique, Universite de Sherbrooke, Sherbrooke, QC J1K 2R1, Canada)
,
Huebner Matthew
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
,
Sanquer Marc
(PHELIQS-LATEQS, Universite Grenoble-Alpes and CEA-Grenoble, 38054 Grenoble, France)
,
Jehl Xavier
(PHELIQS-LATEQS, Universite Grenoble-Alpes and CEA-Grenoble, 38054 Grenoble, France)
,
Snider Gregory L.
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame, Notre Dame, IN 46556, USA)
資料名：
Applied Sciences (Web)
(Applied Sciences (Web))
巻： 10 号： 24 ページ： 8797 発行年： 2020年
JST資料番号： U7135A ISSN： 2076-3417 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
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