文献
J-GLOBAL ID:202102244935269673
整理番号:21A0305030
オフラインライタ独立署名検証のためのメトリック学習アプローチ【JST・京大機械翻訳】
A Metric Learning Approach for Offline Writer Independent Signature Verification
著者 (2件):
Hanif Muhammad Shehzad
(Department of Electrical and Computer Engineering, Center of Excellence in Intelligent Engineering Systems (CEIES), King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
,
Bilal Muhammad
(Department of Electrical and Computer Engineering, Center of Excellence in Intelligent Engineering Systems (CEIES), King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
資料名:
Pattern Recognition and Image Analysis
(Pattern Recognition and Image Analysis)
巻:
30
号:
4
ページ:
795-804
発行年:
2020年
JST資料番号:
W4833A
ISSN:
1054-6618
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)