文献
J-GLOBAL ID:202102245629992666
整理番号:21A0984267
擬似MOSFET法の電気特性に及ぼす島端の影響の再検討【JST・京大機械翻訳】
Revisiting an influence of island edges on electrical characteristics of pseudo-MOSFET method
著者 (2件):
Mori Daigo
(Faculty of Engineering Science, Kansai University,Osaka,Japan)
,
Sato Shingo
(Faculty of Engineering Science, Kansai University,Osaka,Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
EUROSOI-ULIS
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)