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文献
J-GLOBAL ID：202102245667819497
整理番号：21A0175377
室温アプローチによる高電子移動度トランジスタ用の(Al)GaNバッファ中の炭素関連トラップエネルギー準位の決定【JST・京大機械翻訳】
Determination of carbon-related trap energy level in (Al)GaN buffers for high electron mobility transistors through a room-temperature approach
Chen Xin
(State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, 5340 Xiping Road, Tianjin 300401, People’s Republic of China)
,
Zhong Yaozong
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Zhou Yu
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Gao Hongwei
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Zhan Xiaoning
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Su Shuai
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Guo Xiaolu
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Sun Qian
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
,
Zhang Zihui
(State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, 5340 Xiping Road, Tianjin 300401, People’s Republic of China)
,
Bi Wengang
(State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, 5340 Xiping Road, Tianjin 300401, People’s Republic of China)
,
Yang Hui
(Key Laboratory of Nano-Devices and Applications, Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences (CAS), Suzhou 215123, People’s Republic of China)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 117 号： 26 ページ： 263501-263501-7 発行年： 2020年
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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