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文献
J-GLOBAL ID：202102246679804621
整理番号：21A0030094
前方散乱投射物体による新しいコインシデンス技術を用いて研究したサブミクロン液滴表面からの高速イオン誘起二次イオン放出【JST・京大機械翻訳】
Fast-ion-induced secondary ion emission from submicron droplet surfaces studied using a new coincidence technique with forward-scattered projectiles
Majima T.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
,
Mizutani S.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
,
Mizunami Y.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
,
Kitajima K.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
,
Tsuchida H.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
,
Saito M.
(Department of Nuclear Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)
資料名：
Journal of Chemical Physics
(Journal of Chemical Physics)
巻： 153 号： 22 ページ： 224201-224201-11 発行年： 2020年
JST資料番号： C0275A ISSN： 0021-9606 CODEN： JCPSA6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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