文献
J-GLOBAL ID:202102249519629441
整理番号:21A0066426
VMD-SVMに基づく変圧器の励磁突入電流と故障同定に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Research on Magnetizing Inrush Current and Fault Identification of Transformer Based on VMD-SVM
著者 (2件):
Meng Jing
(School of Electrical and Control Engineering, Xi’an University of Science and Technology,Xi’an,China,710054)
,
Jingyi Du
(School of Electrical and Control Engineering, Xi’an University of Science and Technology,Xi’an,China,710054)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICIBA
ページ:
172-178
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)