文献
J-GLOBAL ID:202102249624542933
整理番号:21A0667505
計量学習によるマルチラベル分類における矛盾問題の利用【JST・京大機械翻訳】
Exploiting Inconsistency Problem in Multi-label Classification via Metric Learning
著者 (5件):
Li Peiyan
(Data Mining Lab, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,China)
,
Qin Zhili
(Data Mining Lab, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,China)
,
Wang Honglian
(Data Mining Lab, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,China)
,
Yang Qinli
(Data Mining Lab, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,China)
,
Shao Junming
(Data Mining Lab, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICDM
ページ:
1100-1105
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)