文献
J-GLOBAL ID:202102252930920548
整理番号:21A0564909
調整可能なPIM標準による改善によるPIM試験較正の概要【JST・京大機械翻訳】
Overview of PIM test calibrations with its improvement by tunable PIM standard
著者 (2件):
Chen Xiong
(School of Microelectronics, Tianjin University,Tianjin,China)
,
Ren Tianxiong
(School of Microelectronics, Tianjin University,Tianjin,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICEICT
ページ:
328-330
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)