文献
J-GLOBAL ID:202102255286419451
整理番号:21A0147489
有効熱伝導率と同一平坦表面の試料に関する走査型熱顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】
Scanning thermal microscopy on samples of varying effective thermal conductivities and identical flat surfaces
著者 (7件):
Guen E.
(CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France)
,
Chapuis P.-O.
(CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France)
,
Rajkumar R.
(Kelvin Nanotechnology, Glasgow, Scotland G12 8LS, United Kingdom)
,
Dobson P. S.
(School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, Scotland G12 8QQ, United Kingdom)
,
Mills G.
(Kelvin Nanotechnology, Glasgow, Scotland G12 8LS, United Kingdom)
,
Weaver J. M. R.
(School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, Scotland G12 8QQ, United Kingdom)
,
Gomes S.
(CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
128
号:
23
ページ:
235301-235301-12
発行年:
2020年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)