文献
J-GLOBAL ID:202102257927438241
整理番号:21A0876218
XPS,AFM,TOF-SIMS及びSTSにより研究したPAniのソフトイオンスパッタリング【JST・京大機械翻訳】
Soft Ion Sputtering of PAni Studied by XPS, AFM, TOF-SIMS, and STS
著者 (4件):
Goodwin Christopher M.
(Department of Physics, Stockholm University, 10691 Stockholm, Sweden)
,
Voras Zachary E.
(Department of Chemistry, West Chester University of Pennsylvania, West Chester, PA 19383, USA)
,
Tong Xiao
(Brookhaven National Laboratory Center for Functional Nanomaterials, Upton, New York, NY 11973, USA)
,
Beebe Thomas P., Jr.
(Department of Chemistry and Biochemistry Newark, University of Delaware, Newark, DE 19716, USA)
資料名:
Coatings (Web)
(Coatings (Web))
巻:
10
号:
10
ページ:
967
発行年:
2020年
JST資料番号:
U7162A
ISSN:
2079-6412
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)