文献
J-GLOBAL ID:202102258730672805
整理番号:21A1207029
ギガウエハ製造工場におけるロットレベルFabアウト予測の実現に関連する課題【JST・京大機械翻訳】
Challenges Associated with Realization of Lot Level Fab Out Forecast in a Giga Wafer Fabrication Plant
著者 (6件):
Seidel Georg
(Infineon Technologies Austria AG,Villach,AUSTRIA,9500)
,
Lee Ching Foong
(Infineon Technologies (Kulim) Sdn Bhd,Kedah,MALAYSIA,09000)
,
Ying Tang Aik
(Infineon Technologies (Kulim) Sdn Bhd,Kedah,MALAYSIA,09000)
,
Low Soo Leen
(D-SIMLAB Technologies Pte Ltd,Singapore,SINGAPORE,609434)
,
Ping Gan Boon
(D-SIMLAB Technologies Pte Ltd,Singapore,SINGAPORE,609434)
,
Scholl Wolfgang
(Infineon Technologies Dresden GmbH,Dresden,GERMANY,01099)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
WSC
ページ:
1777-1788
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)