文献
J-GLOBAL ID:202102259701576624
整理番号:21A0164871
界面ナノスケール損傷効果を考慮した粒子剥離モデル【JST・京大機械翻訳】
A particle debonding model considering interface nanoscale damage effect
著者 (3件):
Liu Yu
(National Engineering Research Center of Die & Mold CAD, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai 200030, People’s Republic of China)
,
Chen Jieshi
(National Engineering Research Center of Die & Mold CAD, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai 200030, People’s Republic of China)
,
Dong Xianghuai
(National Engineering Research Center of Die & Mold CAD, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai 200030, People’s Republic of China)
資料名:
Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering
(Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering)
巻:
29
号:
1
ページ:
015007 (16pp)
発行年:
2021年
JST資料番号:
W0484A
ISSN:
0965-0393
CODEN:
MSMEEU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)