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文献
J-GLOBAL ID：202102263342235239
整理番号：21A0671972
se(3)-TrackNet:合成領域における画像残差校正によるデータ駆動6D姿勢追跡【JST・京大機械翻訳】
se(3)-TrackNet: Data-driven 6D Pose Tracking by Calibrating Image Residuals in Synthetic Domains
Wen Bowen
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Mitash Chaitanya
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Ren Baozhang
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Bekris Kostas E.
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： IROS ページ： 10367-10373 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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