文献
J-GLOBAL ID:202102263342235239
整理番号:21A0671972
se(3)-TrackNet:合成領域における画像残差校正によるデータ駆動6D姿勢追跡【JST・京大機械翻訳】
se(3)-TrackNet: Data-driven 6D Pose Tracking by Calibrating Image Residuals in Synthetic Domains
著者 (4件):
Wen Bowen
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Mitash Chaitanya
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Ren Baozhang
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
,
Bekris Kostas E.
(University in Piscataway,Computer Science Department of Rutgers,New Jersey,USA,08854)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
IROS
ページ:
10367-10373
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)