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文献
J-GLOBAL ID：202102263465520715
整理番号：21A2123089
高出力半導体レーザアレイチップのテストとシミュレーションの最適化【JST・京大機械翻訳】
Testing Characterization and Simulating Optimization of High-power Laser Diode Array Chips
Du Yuqi
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
,
Wang Zhenfu
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119)
,
Zhang Xiaoying
(陜西省計量科学研究院, 陜西 西安 710100)
,
Yang Guowen
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119)
,
Li Te
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119)
,
Liu Yuxian
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
,
Li Bo
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
,
Chang Yidong
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
,
Zhao Yuliang
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
,
Lan Yu
(中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬態光学与光子技術国家重点実験室,陜西 西安 710119;中国科学院大学, 北京 100049)
資料名：
Faguang Xuebao
(Faguang Xuebao)
巻： 42 号： 5 ページ： 674-681 発行年： 2021年
JST資料番号： W1380A ISSN： 1000-7032 CODEN： FAXUEW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 中国 (CHN) 言語： 中国語 (ZH)
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