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文献
J-GLOBAL ID:202102264845913866   整理番号:21A0328607

V字型二重スリットの伝搬距離を光学的にゼロにした電子干渉実験

Electron interference experiment with optically zero propagation distance for V-shaped double slit
著者 (7件):
Harada Ken
(CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan)
Akashi Tetsuya
(Research & Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan)
Takahashi Yoshio
(Research & Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan)
Kodama Tetsuji
(Graduate School of Science & Technology, Meijo University, Nagoya, Aichi 468-8502, Japan)
Shimada Keiko
(CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan)
Ono Yoshimasa A.
(CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan)
Mori Shigeo
(Department of Materials Science, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka 599-8531, Japan)

資料名:
Applied Physics Express  (Applied Physics Express)

巻: 14  号:ページ: 022006 (5pp)  発行年: 2021年02月 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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