文献
J-GLOBAL ID:202102265773577866
整理番号:21A0015807
構造物の耐久性を試験するためのマイクロコントローラに基づく携帯型測定システム:ミニレビュー【JST・京大機械翻訳】
Portable Measurement Systems Based on Microcontrollers to Test Durability of Structures: Mini-Review
著者 (2件):
Segura Crhistian C.
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Universidad de los Andes, Bogota, Colombia)
,
Osma Johann F.
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Universidad de los Andes, Bogota, Colombia)
資料名:
Frontiers in Built Environment (Web)
(Frontiers in Built Environment (Web))
巻:
6
ページ:
563857
発行年:
2020年
JST資料番号:
U7060A
ISSN:
2297-3362
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)