文献
J-GLOBAL ID:202102267429649240
整理番号:21A0444603
BiドープSn-Ag-Cuはんだ接合のせん断強度と温度サイクル性能の研究【JST・京大機械翻訳】
Investigation of Shear Strength and Temperature Cycling Performance of Bi-doped Sn-Ag-Cu Solder Joints
著者 (6件):
Zou Y. S.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
,
Chung M. H.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
,
Tennant Tracy
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
,
Gan C. L.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
,
Hsu Yun Ting
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
,
Takiar Hem
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
EPTC
ページ:
286-290
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)