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文献
J-GLOBAL ID:202102267429649240   整理番号:21A0444603

BiドープSn-Ag-Cuはんだ接合のせん断強度と温度サイクル性能の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation of Shear Strength and Temperature Cycling Performance of Bi-doped Sn-Ag-Cu Solder Joints
著者 (6件):
Zou Y. S.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
Chung M. H.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
Tennant Tracy
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
Gan C. L.
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
Hsu Yun Ting
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)
Takiar Hem
(Micron Technology, Inc,Taichung City,Taiwan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2020  号: EPTC  ページ: 286-290  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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