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文献
J-GLOBAL ID：202102268603215261
整理番号：21A1334286
最高放射OLEDディスプレイにおけるTFT信頼度に関するカプセル封じ構造の研究
A Study of Encapsulation Structure for TFT Reliability in Top Emission OLED Display
OH Jae Young
(LG Display, Gangseo-gu, KOR)
,
NAM SeungHee
(LG Display, Gangseo-gu, KOR)
,
PARK Kwon-Shik
(LG Display, Gangseo-gu, KOR)
,
YOON SooYoung
(LG Display, Gangseo-gu, KOR)
,
KANG InByeong
(LG Display, Gangseo-gu, KOR)
,
JEONG Jae Kyeong
(Hanyang Univ., Seoul, KOR)
資料名：
Proceedings of the International Display Workshops (Web)
(Proceedings of the International Display Workshops (Web))
巻： 26th (CD-ROM) ページ： ROMBUNNO.OLEDp1-7 発行年： 2019年11月26日
JST資料番号： U2298A ISSN： 1883-2490 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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