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文献
J-GLOBAL ID:202102273511324409   整理番号:21A2982452

モック技術に基づくマイクロサービス応用試験に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Research on Microservice Application Testing Based on Mock Technology
著者 (6件):
Lin Du
(Anhui Jiyuan Inspection And Testing Technology Co., Ltd,Hefei,China,230088)
Liping Fang
(Anhui Jiyuan Inspection And Testing Technology Co., Ltd,Hefei,China,230088)
Jiajia Han
(State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd,Research Institute,Hangzhou,China,310014)
Qingzhao Tang
(State Grid Information & Telecommunication Group Co.,Ltd,Beijing,China,102211)
Changhua Sun
(State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd,Research Institute,Hangzhou,China,310014)
Xiaohui Zhang
(State Grid Customer Service Center,China,300300)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2020  号: ICVRIS  ページ: 815-819  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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