文献
J-GLOBAL ID:202102273511324409
整理番号:21A2982452
モック技術に基づくマイクロサービス応用試験に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Research on Microservice Application Testing Based on Mock Technology
著者 (6件):
Lin Du
(Anhui Jiyuan Inspection And Testing Technology Co., Ltd,Hefei,China,230088)
,
Liping Fang
(Anhui Jiyuan Inspection And Testing Technology Co., Ltd,Hefei,China,230088)
,
Jiajia Han
(State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd,Research Institute,Hangzhou,China,310014)
,
Qingzhao Tang
(State Grid Information & Telecommunication Group Co.,Ltd,Beijing,China,102211)
,
Changhua Sun
(State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd,Research Institute,Hangzhou,China,310014)
,
Xiaohui Zhang
(State Grid Customer Service Center,China,300300)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICVRIS
ページ:
815-819
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)