文献
J-GLOBAL ID:202102276016294449
整理番号:21A0002902
ベータ線を用いた高速真の乱数発生器【JST・京大機械翻訳】
High rate true random number generator using beta radiation
著者 (5件):
Park Kyung Hwan
(ETRI, 218 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon, 34129, Republic of Korea)
,
Park Seong Mo
(ETRI, 218 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon, 34129, Republic of Korea)
,
Choi Byoung Gun
(ETRI, 218 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon, 34129, Republic of Korea)
,
Kim Jong Bum
(KAERI : 111 Daedeok-daero 989 beon-gil, Yuseong-gu, Daejeon, 34057, Republic of Korea)
,
Son Kwang Jae
(KAERI : 111 Daedeok-daero 989 beon-gil, Yuseong-gu, Daejeon, 34057, Republic of Korea)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
2295
号:
1
ページ:
020020-020020-15
発行年:
2020年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)