文献
J-GLOBAL ID:202102280114838625
整理番号:21A0577897
表面欠陥検出のための効率的ネットワーク【JST・京大機械翻訳】
An Efficient Network for Surface Defect Detection
著者 (4件):
Lin Zesheng
(Key Laboratory for Information Science of Electromagnetic Waves (MoE), Fudan University, Shanghai 200433, China)
,
Ye Hongxia
(Key Laboratory for Information Science of Electromagnetic Waves (MoE), Fudan University, Shanghai 200433, China)
,
Zhan Bin
(NVIDIA Technology Shanghai Co., Ltd., Shanghai 201210, China)
,
Huang Xiaofeng
(School of Communication Engineering, Hangzhou Dianzi University, Hangzhou 310018, China)
資料名:
Applied Sciences (Web)
(Applied Sciences (Web))
巻:
10
号:
17
ページ:
6085
発行年:
2020年
JST資料番号:
U7135A
ISSN:
2076-3417
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)