文献
J-GLOBAL ID:202102286823808962
整理番号:21A1479690
欠陥予測を強化するための故障局所化の利用【JST・京大機械翻訳】
Leveraging Fault Localisation to Enhance Defect Prediction
著者 (4件):
Sohn Jeongju
(KAIST,Daejeon,Korea)
,
Kamei Yasutaka
(Kyushu University,Kyushu,Japan)
,
McIntosh Shane
(University of Waterloo,Waterloo,Canada)
,
Yoo Shin
(KAIST,Daejeon,Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2021
号:
SANER
ページ:
284-294
発行年:
2021年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)