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文献
J-GLOBAL ID：202102287732634893
整理番号：21A0667634
HVおよびMV DC絶縁システム:寿命予測のための予想外のエージングメカニズムとメトリックス【JST・京大機械翻訳】
HV and MV DC Insulation System: Unexpected Aging Mechanisms and Metrics for Life Prediction
Montanari G.C.
(Florida State University,Centre for Advanced Power Systems,Tallahassee,USA)
,
Ghosh R.
(Florida State University,Centre for Advanced Power Systems,Tallahassee,USA)
,
Seri P.
(University of Bologna,Department of Electrical Electronic and Information Engineering,Bologna,Italy)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： ICIIS ページ： 115-120 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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