文献
J-GLOBAL ID:202102287732634893
整理番号:21A0667634
HVおよびMV DC絶縁システム:寿命予測のための予想外のエージングメカニズムとメトリックス【JST・京大機械翻訳】
HV and MV DC Insulation System: Unexpected Aging Mechanisms and Metrics for Life Prediction
著者 (3件):
Montanari G.C.
(Florida State University,Centre for Advanced Power Systems,Tallahassee,USA)
,
Ghosh R.
(Florida State University,Centre for Advanced Power Systems,Tallahassee,USA)
,
Seri P.
(University of Bologna,Department of Electrical Electronic and Information Engineering,Bologna,Italy)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICIIS
ページ:
115-120
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)