文献
J-GLOBAL ID:202102288574107529
整理番号:21A0229237
RS-Mask:電力と故障解析に対する統合対策としてのランダム空間マスキング【JST・京大機械翻訳】
RS-Mask: Random Space Masking as an Integrated Countermeasure against Power and Fault Analysis
著者 (3件):
Ramezanpour Keyvan
(Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061)
,
Ampadu Paul
(Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061)
,
Diehl William
(Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
HOST
ページ:
176-187
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)