文献
J-GLOBAL ID:202102288835951407
整理番号:21A0448302
ISL70061SEHおよびISL70062SEH PMOSおよびNMOS負荷スイッチの全線量試験【JST・京大機械翻訳】
Total Dose Testing of the ISL70061SEH and ISL70062SEH PMOS and NMOS Load Switches
著者 (2件):
van Vonno N. W.
(Renesas Electronics America,Palm Bay,Florida,32905)
,
Newman W. H.
(Renesas Electronics America,Palm Bay,Florida,32905)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
REDW
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)