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文献
J-GLOBAL ID：202102290454414545
整理番号：21A0563027
CTSに基づくシリコン上の熱変化による収率を予測するための機械学習アプローチ【JST・京大機械翻訳】
A Machine Learning Approach to Predict Yield with Thermal Variation on Silicon Based on CTS
Chang Michael
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Kao Simon
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Xue Patrick
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Hsu Bryant
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Chien Andrew
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Chung Kevin
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
,
Ho Robby
(EE HTC No. 23 Xinghua Road,Taoyuan City,Taoyuan County,Taiwan (R.O.C),330)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020 号： APMC ページ： 1095-1097 発行年： 2020年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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