文献
J-GLOBAL ID:202102291144690789
整理番号:21A0447647
効率的なテストパターン生成のための機械知能【JST・京大機械翻訳】
Machine Intelligence for Efficient Test Pattern Generation
著者 (3件):
Roy Soham
(Auburn University,Department of Electrical and Computer Engineering,Auburn,AL,36849-5201)
,
Millican Spencer K.
(Auburn University,Department of Electrical and Computer Engineering,Auburn,AL,36849-5201)
,
Agrawal Vishwani D.
(Auburn University,Department of Electrical and Computer Engineering,Auburn,AL,36849-5201)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ITC
ページ:
1-5
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)