文献
J-GLOBAL ID:202202213021040616
整理番号:22A0467047
不均衡マルチラベル表面欠陥分類のための深層学習モデル【JST・京大機械翻訳】
Deep learning model for imbalanced multi-label surface defect classification
著者 (3件):
Liu Yang
(University of Bremen, 28359 Bremen, Germany)
,
Yuan Yachao
(Institute of Computer Science, University of Goettingen, 37077 Goettingen, Germany)
,
Liu Jing
(Key Laboratory of Materials Processing Engineering, School of Material Science and Engineering, Xi’an Shiyou University, Xi’an 710065, People’s Republic of China)
資料名:
Measurement Science and Technology
(Measurement Science and Technology)
巻:
33
号:
3
ページ:
035601 (12pp)
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0354C
ISSN:
0957-0233
CODEN:
MSTCEP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)