文献
J-GLOBAL ID:202202215464206027
整理番号:22A0889106
高次元試験データに基づく半導体チップ品質分析【JST・京大機械翻訳】
Semiconductor chip’s quality analysis based on its high dimensional test data
著者 (2件):
Kai Sun
(Microwave Device and Integrated Circuits Laboratory, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, People’s Republic of China)
,
Jin Wu
(Microwave Device and Integrated Circuits Laboratory, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing, People’s Republic of China)
資料名:
Annals of Operations Research
(Annals of Operations Research)
巻:
311
号:
1
ページ:
183-194
発行年:
2022年
JST資料番号:
T0444A
ISSN:
0254-5330
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)