文献
J-GLOBAL ID:202202219579435505
整理番号:22A0909241
Wollastonプローブを用いる走査型熱顕微鏡法による薄膜熱伝導率測定の精度に及ぼす接触点非対称性の影響【JST・京大機械翻訳】
The effect of the contact point asymmetry on the accuracy of thin films thermal conductivity measurement by scanning thermal microscopy using Wollaston probes
著者 (5件):
Hapenciuc C. L.
(National Institute for Lasers Plasma and Radiation Physics, 409 Atomistilor St., Magurele RO-77125, Romania)
,
Negut I.
(National Institute for Lasers Plasma and Radiation Physics, 409 Atomistilor St., Magurele RO-77125, Romania)
,
Visan A.
(National Institute for Lasers Plasma and Radiation Physics, 409 Atomistilor St., Magurele RO-77125, Romania)
,
Borca-Tasciuc T.
(Mechanical Aerospace and Nuclear Engineering Department, Rensselaer Polytechnic Institute, 110 8th St., Troy, New York 12180-3590, USA)
,
Mihailescu I. N.
(National Institute for Lasers Plasma and Radiation Physics, 409 Atomistilor St., Magurele RO-77125, Romania)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
131
号:
9
ページ:
094902-094902-15
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)