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文献
J-GLOBAL ID:202202219779982670   整理番号:22A0958737

線量測定応用のためのNANDフラッシュメモリの解析的ビット誤りモデル【JST・京大機械翻訳】

Analytical Bit-Error Model of NAND Flash Memories for Dosimetry Application
著者 (6件):
Kumari Preeti
(Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Alabama in Huntsville, Huntsville, AL, USA)
Surendranathan Umeshwarnath
(Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Alabama in Huntsville, Huntsville, AL, USA)
Wasiolek Maryla
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM, USA)
Hattar Khalid
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM, USA)
Bhat Narayana
(Center for Space Plasma and Aeronomic Research, The University of Alabama in Huntsville, Huntsville, AL, USA)
Ray Biswajit
(Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Alabama in Huntsville, Huntsville, AL, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 69  号:ページ: 478-484  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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