文献
J-GLOBAL ID:202202222644360967
整理番号:22A0482700
WATにおけるパラメータ試験のための140dB入力範囲電流ディジタイザと統合した正確で高速なオンウエハ試験回路【JST・京大機械翻訳】
Accurate and Fast On-Wafer Test Circuitry Integrated With a 140-dB-Input-Range Current Digitizer for Parameter Tests in WAT
著者 (2件):
Lin Long-Yi
(Institute of Electrical and Computer Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan)
,
Hong Hao-Chiao
(Institute of Electrical and Computer Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan)
資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻:
69
号:
1
ページ:
114-127
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0226B
ISSN:
1549-8328
CODEN:
ITCSCH
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)