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文献
J-GLOBAL ID：202202223182323998
整理番号：22A0799079
金属薄膜における厚さ貫通亀裂のin situ電気抵抗ピーク広がりへの連結【JST・京大機械翻訳】
Linking through-thickness cracks in metallic thin films to in-situ electrical resistance peak broadening
Gebhart David D.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, Leoben 8700, Austria)
,
Krapf Anna
(Department of Materials Science & Engineering, Institute 1, University of Erlangen-Nuernberg (FAU), Martensstrasse 5, Erlangen 91058, Germany)
,
Gammer Christoph
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, Leoben 8700, Austria)
,
Merle Benoit
(Department of Materials Science & Engineering, Institute 1, University of Erlangen-Nuernberg (FAU), Martensstrasse 5, Erlangen 91058, Germany)
,
Cordill Megan J.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, Leoben 8700, Austria)
資料名：
Scripta Materialia
(Scripta Materialia)
巻： 212 ページ： Null 発行年： 2022年
JST資料番号： B0915A ISSN： 1359-6462 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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