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文献
J-GLOBAL ID：202202223907668234
整理番号：22A0780536
拡張FPNモデルに基づく焦点ハードサンプルPCBの欠陥検出方法【JST・京大機械翻訳】
A Method of Defect Detection for Focal Hard Samples PCB Based on Extended FPN Model
Li Cui-Jin
(College of Computer Science and Technology, Chongqing University of Posts and Telecommunications, Chongqing, China)
,
Qu Zhong
(College of Computer Science and Technology, Chongqing University of Posts and Telecommunications, Chongqing, China)
,
Wang Shi-Yan
(College of Computer Science and Technology, Chongqing University of Posts and Telecommunications, Chongqing, China)
,
Bao Kang-Hua
(Southwest Computer Company Ltd., Institute of Information Technology, Chongqing, China)
,
Wang Sheng-Ye
(College of Computer Science and Technology, Chongqing University of Posts and Telecommunications, Chongqing, China)
資料名：
IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology
(IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻： 12 号： 2 ページ： 217-227 発行年： 2022年
JST資料番号： W0590B ISSN： 2156-3950 CODEN： ITCPC8 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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