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文献
J-GLOBAL ID：202202227254136694
整理番号：22A1043495
位相減衰双対性による低X線エネルギーでの信頼性のある材料特性評価【JST・京大機械翻訳】
Reliable material characterization at low x-ray energy through the phase-attenuation duality
Buchanan I.
(Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
,
Astolfo A.
(Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
,
Endrizzi M.
(Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
,
Bate D.
(Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
,
Olivo A.
(Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 120 号： 12 ページ： 124102-124102-6 発行年： 2022年
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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