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文献
J-GLOBAL ID：202202227734354754
整理番号：22A0396896
Electronイベント表現データからの実時間対話型4D-STEM位相コントラストイメージング:正しい表現による少ない計算【JST・京大機械翻訳】
Real-Time Interactive 4D-STEM Phase-Contrast Imaging From Electron Event Representation Data: Less computation with the right representation
Pelz Philipp M.
(Materials Science and Engineering Department, University of California, Berkeley, Berkeley, California, USA)
,
Johnson Ian
(Paul Scherrer Institute, Villigen, Switzerland)
,
Ophus Colin
(National Center for Electron Microscopy, part of the Molecular Foundry at Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, USA)
,
Ercius Peter
(National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, USA)
,
Scott Mary C.
(Materials Science and Engineering Department, University of California, Berkeley, Berkeley, California, USA)
資料名：
IEEE Signal Processing Magazine
(IEEE Signal Processing Magazine)
巻： 39 号： 1 ページ： 25-31 発行年： 2022年
JST資料番号： H0928A ISSN： 1053-5888 CODEN： ISPRE6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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