文献
J-GLOBAL ID:202202229976042926
整理番号:22A0913364
多機能故障診断のための1クラス生成敵対検出フレームワーク【JST・京大機械翻訳】
A One-Class Generative Adversarial Detection Framework for Multifunctional Fault Diagnoses
著者 (4件):
Pu Ziqiang
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China)
,
Cabrera Diego
(GIDTEC Group, Universidad Polite ́cnica Salesiana, Cuenca, Ecuador)
,
Bai Yun
(Faculty of Science and Technology, University of Algarve, Faro, Portugal)
,
Li Chuan
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻:
69
号:
8
ページ:
8411-8419
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0234A
ISSN:
0278-0046
CODEN:
ITIED6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)