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J-GLOBAL ID:202202231117594514   整理番号:22A0802926

180nm CMOSにおける前景較正ベース6ps分解能フラッシュTDCによる1μsロッキング時間デュアルループADPLL【JST・京大機械翻訳】

A 1 μs Locking Time Dual Loop ADPLL with Foreground Calibration-Based 6 ps Resolution Flash TDC in 180 nm CMOS
著者 (3件):
Sahani Jagdeep Kaur
(ECED, Thapar Institute of Engineering and Technology, Patiala, India)
Singh Anil
(ECED, Thapar Institute of Engineering and Technology, Patiala, India)
Agarwal Alpana
(ECED, Thapar Institute of Engineering and Technology, Patiala, India)

資料名:
Circuits, Systems, and Signal Processing  (Circuits, Systems, and Signal Processing)

巻: 41  号:ページ: 1299-1323  発行年: 2022年 
JST資料番号: H0430B  ISSN: 0278-081X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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