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文献
J-GLOBAL ID：202202232250021362
整理番号：22A0396302
ゾルゲルインジウムルビジウム亜鉛酸化物TFTのトラップ状態に及ぼす熱蒸着の影響【JST・京大機械翻訳】
Influence of Thermal Postdeposition on Trap States in Sol-Gel Indium-Zinc Oxide TFTs
Chatterjee Neel
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Twin Cities, Minneapolis, MN, USA)
,
Weidling Adam M.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Twin Cities, Minneapolis, MN, USA)
,
Zhou Yuchen
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Twin Cities, Minneapolis, MN, USA)
,
Ruden P. Paul
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Twin Cities, Minneapolis, MN, USA)
,
Swisher Sarah L.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Twin Cities, Minneapolis, MN, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 69 号： 1 ページ： 180-188 発行年： 2022年
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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