文献
J-GLOBAL ID:202202233781526606
整理番号:22A0553359
MFIS NCFETの新しい表面電位ベース解析モデル【JST・京大機械翻訳】
A New Surface Potential-Based Analytical Model for MFIS NCFETs
著者 (2件):
Pahariya Anuj
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Kanpur, Kanpur, Uttar Pradesh, India)
,
Dutta Aloke K.
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Kanpur, Kanpur, Uttar Pradesh, India)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
69
号:
2
ページ:
870-877
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)