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文献
J-GLOBAL ID：202202234073284832
整理番号：22A0396842
SiC MOSFETにおけるゲート開放故障の調査とオンボード検出【JST・京大機械翻訳】
Investigation and On-Board Detection of Gate-Open Failure in SiC MOSFETs
Vankayalapati Bhanu Teja
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas-Dallas, Richardson, TX, USA)
,
Pu Shi
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas-Dallas, Richardson, TX, USA)
,
Yang Fei
(Texas Instruments, Dallas, TX, USA)
,
Farhadi Masoud
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas-Dallas, Richardson, TX, USA)
,
Gurusamy Vigneshwaran
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas-Dallas, Richardson, TX, USA)
,
Akin Bilal
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas-Dallas, Richardson, TX, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Power Electronics
(IEEE Transactions on Power Electronics)
巻： 37 号： 4 ページ： 4658-4671 発行年： 2022年
JST資料番号： D0211B ISSN： 0885-8993 CODEN： ITPEE8 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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