文献
J-GLOBAL ID:202202236224371468
整理番号:22A0963823
横モードにおけるナノスケールシリコン導波路に対する次元依存有効屈折率解析【JST・京大機械翻訳】
Dimension Dependent Effective Index Analysis for a Nano-scale Silicon Waveguide in Transverse Mode
著者 (4件):
Chen A. T. C.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
,
Petra R.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
,
Yeo K. S. K.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
,
Uddin M. Rakib
(The State University of New York Research Foundation State University of New York Polytechnic InstituteFuller Road,Albany,New York,12203)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2022
号:
ICACT
ページ:
1392-1398
発行年:
2022年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)