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J-GLOBAL ID:202202236224371468   整理番号:22A0963823

横モードにおけるナノスケールシリコン導波路に対する次元依存有効屈折率解析【JST・京大機械翻訳】

Dimension Dependent Effective Index Analysis for a Nano-scale Silicon Waveguide in Transverse Mode
著者 (4件):
Chen A. T. C.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
Petra R.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
Yeo K. S. K.
(Universiti Teknologi Brunei (UTB),Electrical and Electronic Engineering Programme Area, Faculty of Engineering,Gadong,Brunei Darussalam)
Uddin M. Rakib
(The State University of New York Research Foundation State University of New York Polytechnic InstituteFuller Road,Albany,New York,12203)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2022  号: ICACT  ページ: 1392-1398  発行年: 2022年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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