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文献
J-GLOBAL ID：202202236569178285
整理番号：22A0958093
ZnS/CaF_2多層に基づく1D PCにおける欠陥とバンド端透過の熱および層の厚さ依存性【JST・京大機械翻訳】
Thermal and Layer Thickness Dependence of Defect and Band Edge Transmissions in 1D PCs Based on ZnS/CaF2 Multilayers
Shilpa R
(Stuctured Electromagnetic Materials and Devices Lab, Department of Physics and Nanotechnology, SRM Institute of Science and Technology, Kattankulathur, Tamilnadu, India, 603203)
,
Abhinaya
(Stuctured Electromagnetic Materials and Devices Lab, Department of Physics and Nanotechnology, SRM Institute of Science and Technology, Kattankulathur, Tamilnadu, India, 603203)
,
Yamuna
(Stuctured Electromagnetic Materials and Devices Lab, Department of Physics and Nanotechnology, SRM Institute of Science and Technology, Kattankulathur, Tamilnadu, India, 603203)
,
Mudachathi Renilkumar
(Stuctured Electromagnetic Materials and Devices Lab, Department of Physics and Nanotechnology, SRM Institute of Science and Technology, Kattankulathur, Tamilnadu, India, 603203)
,
Mudachathi Renilkumar
(Metamaterials Laboratory, RIKEN center for advanced photonics, RIKEN, Wako, Japan, 351- 0198)
資料名：
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
(IOP Conference Series: Materials Science and Engineering)
巻： 1219 号： 1 ページ： 012015 (6pp) 発行年： 2022年
JST資料番号： W5559A ISSN： 1757-8981 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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