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文献
J-GLOBAL ID：202202238420019789
整理番号：22A0956252
オンチップICの高速I/O ESD保護のためのDTSCRの設計と最適化【JST・京大機械翻訳】
Design and optimization of DTSCR for high-speed I/O ESD protection of on-chip ICs
Liang Hailian
(Department of Electronic Engineering, Engineering Research Center of IoT Technology Applications (Ministry of Education), Jiangnan University, Wuxi 214122, People’s Republic of China)
,
Yang Yanni
(Department of Electronic Engineering, Engineering Research Center of IoT Technology Applications (Ministry of Education), Jiangnan University, Wuxi 214122, People’s Republic of China)
,
Sun Jun
(Process Development Department, CSMC, Wuxi 214028, People’s Republic of China)
,
Liu Junliang
(Department of Electronic Engineering, Engineering Research Center of IoT Technology Applications (Ministry of Education), Jiangnan University, Wuxi 214122, People’s Republic of China)
,
Cao Xiyue
(Department of Electronic Engineering, Engineering Research Center of IoT Technology Applications (Ministry of Education), Jiangnan University, Wuxi 214122, People’s Republic of China)
,
Gu Xiaofeng
(Department of Electronic Engineering, Engineering Research Center of IoT Technology Applications (Ministry of Education), Jiangnan University, Wuxi 214122, People’s Republic of China)
資料名：
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻： 37 号： 4 ページ： 045009 (6pp) 発行年： 2022年
JST資料番号： E0503B ISSN： 0268-1242 CODEN： SSTEET 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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