文献
J-GLOBAL ID:202202241191513246
整理番号:22A0956705
ビーム実験で研究した酸化ニッケルと銅のイオン誘起二次電子放出【JST・京大機械翻訳】
Ion-induced secondary electron emission of oxidized nickel and copper studied in beam experiments
著者 (3件):
Buschhaus R
(Experimental Physics II-Reactive Plasmas, Ruhr-University Bochum, D-44780 Bochum, Germany)
,
Prenzel M
(Experimental Physics II-Reactive Plasmas, Ruhr-University Bochum, D-44780 Bochum, Germany)
,
von Keudell A
(Experimental Physics II-Reactive Plasmas, Ruhr-University Bochum, D-44780 Bochum, Germany)
資料名:
Plasma Sources Science and Technology
(Plasma Sources Science and Technology)
巻:
31
号:
2
ページ:
025017 (13pp)
発行年:
2022年
JST資料番号:
W0479A
ISSN:
0963-0252
CODEN:
PSTEEU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)