文献
J-GLOBAL ID:202202245424916446
整理番号:22A1155171
Raman分光法による多孔性ナノシリコンの分析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of Porous Nanosilicon by Raman Spectroscopy
著者 (3件):
Rotshteyn V. M.
(Institute of Ion-Plasma and Laser Technologies, Academy of Sciences of the Republic of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan)
,
Turdaliev T. K.
(Institute of Ion-Plasma and Laser Technologies, Academy of Sciences of the Republic of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan)
,
Ashurov Kh. B.
(Institute of Ion-Plasma and Laser Technologies, Academy of Sciences of the Republic of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan)
資料名:
Journal of Applied Spectroscopy
(Journal of Applied Spectroscopy)
巻:
89
号:
1
ページ:
43-48
発行年:
2022年
JST資料番号:
B0784B
ISSN:
0021-9037
CODEN:
JASYAP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)