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文献
J-GLOBAL ID:202202251070654900   整理番号:22A0465247

M面サファイア基板上に成長させたVO_2/TiO_2エピタキシャル二層膜の室温絶縁体-金属転移【JST・京大機械翻訳】

Room Temperature Insulator-to-Metal Transition of VO2/TiO2 Epitaxial Bilayer Films Grown on M-plane Sapphire Substrates
著者 (4件):
Chen Binjie
(Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, N14W9, Kita, Sapporo, 060-0814, Japan)
Kim Gowoon
(Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, N14W9, Kita, Sapporo, 060-0814, Japan)
Cho Hai Jun
(Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, N20W10, Kita, Sapporo, 001-0020, Japan)
Ohta Hiromichi
(Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, N20W10, Kita, Sapporo, 001-0020, Japan)

資料名:
Advanced Electronic Materials  (Advanced Electronic Materials)

巻:号:ページ: e2100687  発行年: 2022年 
JST資料番号: W2482A  ISSN: 2199-160X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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