文献
J-GLOBAL ID:202202254230426976
整理番号:22A0958744
ガンマ線と核融合誘起中性子による背面照射P型フォトMOSピクセルの放射線特性評価【JST・京大機械翻訳】
Radiation Characterization of a Backside-Illuminated P-Type Photo-MOS Pixel With Gamma Rays and Fusion-Induced Neutrons
著者 (9件):
Malherbe Victor
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
Roy Francois
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
Nier Olivier
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
Dalleau Thomas
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
De Paoli Serge
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
Roche Philippe
(STMicroelectronics, Crolles Cedex, France)
,
Autran Jean-Luc
(IM2NP, UMR7334, CNRS, Aix-Marseille University, Marseille, France)
,
Dentan Martin
(ITER Organization, Saint-Paul-lez-Durance, France)
,
Lu Guo-Neng
(Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Universite ́ Claude Bernard Lyon 1, Villeurbanne, France)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
69
号:
3
ページ:
534-541
発行年:
2022年
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)