文献
J-GLOBAL ID:202202254432708977
整理番号:22A0980256
混合集積回路を試験するための統合アナログ符号発生器【JST・京大機械翻訳】
Integrated Analogical Signs Generator for Testing Mixed Integrated Circuits
著者 (5件):
Simancas-Garcia Jose L.
(Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia)
,
Melendez-Pertuz Farid A.
(Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia)
,
Combita-Nino Harold
(Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia)
,
Gonzalez Ramon E. R.
(Departamento de Fisica, Universidade Federal Rural de Pernambuco, Recife, Pernambuco, Brazil)
,
Collazos-Morales Carlos
(Vicerrectoria de Investigaciones, Universidad Manuela Beltran, Bogota, Colombia)
資料名:
Lecture Notes in Computer Science
(Lecture Notes in Computer Science)
巻:
13184
ページ:
483-495
発行年:
2022年
JST資料番号:
H0078D
ISSN:
0302-9743
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)